-
Cvičení 1 - výpočet optických konstant a jiných veličin
V tomto prvním cvičení si ukážeme, jak spočítat optické konstanty pomocí zabudovaného dispezního modelu a jak modelovat odrazivost.
-
Cvičení 2 - fit odrazivosti pomocí Sellmeierovy formule
V tomto cvičení je ukázáno jak určit index lomu SiO2 vrstvy na waferu z krystalického křemíku pomocí analýzy měření odrazivosti.
-
Cvičení 3 - kombinace více druhů měření
V tomto cvičení si dále ukážeme jak kombinovat různé druhy měření (konkrétně elipsometrii a odrazivost).
-
Cvičení 4 - modelování neuniformních vzorků
V tomto cvičení si ukážeme jak zavést neuniformitu vzorků.